ビームおよび集光スポットの光学パラメータを分析および測定するための測定分析装置。これは、光学ポインティング ユニット、光学減衰ユニット、熱処理ユニット、光学イメージング ユニットで構成されます。ソフトウェア分析機能も備えており、テストレポートも提供します。
(1) 焦点深度範囲内のさまざまな指標 (エネルギー分布、ピークパワー、楕円率、M2、スポットサイズ) の動的解析。
(2) UV から IR (190nm-1550nm) までの広い波長応答範囲。
(3) マルチスポット、定量的、操作が簡単。
(4) 平均電力 500W までの高い損傷閾値。
(5) 最大 2.2um の超高解像度。
シングルビームまたはマルチビームおよびビーム集束パラメータ測定用。
| モデル | FSA500 |
| 波長(nm) | 300-1100 |
| NA | ≤0.13 |
| 入射瞳位置スポット径（mm） | ≤17 |
| 平均電力(W) | 1-500 |
| 感光体サイズ(mm) | 5.7x4.3 |
| 測定可能スポット径(mm) | 0.02～4.3 |
| フレームレート(fps) | 14 |
| コネクタ | USB3.0 |
試験可能なビームの波長範囲は300～1100nm、平均ビームパワー範囲は1～500W、測定対象の集光スポットの直径は最小20μm～4.3mmの範囲です。
使用中、ユーザーはモジュールまたは光源を移動して最適なテスト位置を見つけ、システムの内蔵ソフトウェアを使用してデータの測定と分析を行います。ソフトウェアは、光スポットの断面の2次元または3次元の強度分布フィッティング図を表示することができ、また、2次元における光スポットの大きさ、楕円率、相対位置、強度などの定量的なデータも表示できます。 -次元の方向。同時に、ビーム M2 を手動で測定することができます。
